{"id":10000055,"date":"2023-11-08T14:24:25","date_gmt":"2023-11-08T13:24:25","guid":{"rendered":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/?page_id=55"},"modified":"2024-07-04T15:18:14","modified_gmt":"2024-07-04T13:18:14","slug":"studienplan","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/im-studium\/studienplan\/","title":{"rendered":"Studienplan"},"content":{"rendered":"
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Curriculum<\/h3>\n<\/div>\n\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n\n\n\n
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Aktueller Studienplan<\/h2>\n <\/div>\n
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\n 1. Semester<\/span>\n \n\n<\/svg> <\/h4>\n <\/a>\n \n \n
\n \n Analog Circuit Design |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862101<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Analog Circuit Design<\/h5>\n
\n
\n
5.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Stochastische Signaltheorie: Effektivwert, Mittelwert, Autokorrelation, Kreuzkorrelation, spektrale Leistungsdichte
\nRauschen in elektronischen Schaltungen: Arten, Quellen, Transistorrauschen, Rauschzahl, Schaltungsanalyse
\nAktive Filterschaltungen: Filtercharakteristik, Sallen-Key- und Multifeedback-Schaltung, Bandpass 4. Ordnung, NIC, Gyrator, gm-C-Filter, Doppel-T
\nFilter mit geschalteten Kondensatoren: Ladungsausgleich, Verst\u00e4rker, Integrator, Filter
\nADC\/DAC-Spezifikationen: ADC-Rauschen, ENOB, Verst\u00e4rkungs- und Offsetfehler, INL, DNL, SFDR
\nA\/D- und D\/A-Wandler: Widerstandskette, R-2R-Netzwerk, gewichtete Stromquellen, Ladungsbilanz-Umsetzer, PWM, Delta-Sigma-DAC, Flash, Pipeline, SAR, Dual-Slope, Delta-Sigma-ADC
\nBandgap-Referenzen: Temperaturdrift der Basis-Emitter-Spannung, Referenzschaltungen
\nFrontend-Design: Beispiel-Design mit Verst\u00e4rker, Filter und ADC, SNR- und ENOB-Berechnung
\nComputersimulationen von Schaltungsrauschen
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Data Analysis |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862106<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Data Analysis<\/h5>\n
\n
\n
5.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Zusammenfassen, Ordnen und Darstellen einer Datenmenge unter Verwendung von Methoden der deskriptiven Statistik wie H\u00e4ufigkeiten, Visualisierungstools sowie Korrelations- und Kovarianzmatrix
\nBeschreiben und Vorhersagen von Ergebnissen in unsicheren Situationen mithilfe der Wahrscheinlichkeitstheorie und ihrer Grenzwerts\u00e4tze
\nDefinition und Anwendung von Zufallsvariablen einschlie\u00dflich Grenzwerts\u00e4tzen, Verteilungen sowie Modell- und Parametersch\u00e4tzungen
\nEinsatz von Software f\u00fcr die statistische Analyse
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Design Tools and Laboratory Engineering |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862104<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Design Tools and Laboratory Engineering<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Prozedurale Programmier. und die erforderl. Programmierumgebung
\nEinsatz von Debugging-Techniken zur Analyse\/ in Softwaresystemen
\nEinf\u00fchrung in objektorient. Programmierkonzepte durch Entwurf und Implementierung von Klassen anhand prakt. Beispiele
\nEinf\u00fchrung in den Laborbetrieb
\nDimensionierung und Aufbau von Transistor- und Operationsverst\u00e4rkerschalt. auf Prototypenplatinen
\nEinsatz von Laborger\u00e4ten: Netzteile, Signalerzeugung, Multimeter, LCR-Br\u00fccke, Oszilloskope
\nIterative, manuelle Erstellung von UI-Kurven und Bode-Diagrammen
\nSpice-Einf\u00fchrung in grundleg. Transistor- und Operationsverst\u00e4rkerschalt.
\nWissenschaftliche Datenverarbeitung mit numerischen Analysewerkzeugen und grafische Darstell. der Ergebnisse unter Ber\u00fccksichtig. von Richtlinien f\u00fcr Berichte
\nPCB-Design-Workflow: Eingabe eines Schaltplans, Routing eines PCB-Layouts und die automat. Generier. von Fertigungs- und Best\u00fcckungsdaten
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Digital Circuit Design |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862102<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Digital Circuit Design<\/h5>\n
\n
\n
5.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Fortgeschrittene Syntax einer Hardwarebeschreibungssprache und synthetisierbare HDL-Programmierung
\nPraktischer Schaltungsentwurf und Simulation (z. B. arithmetische Schaltungen, endliche Zustandsmaschinen und Schnittstellen wie SPI, I2C, I2S oder UART)
\nVerifikationstechniken f\u00fcr digitale Schaltungen (z.B. Simulation, Assertions)
\nArbeitsabl\u00e4ufe f\u00fcr programmierbare Logikbausteine (FPGAs) und ihre Unterschiede zum Entwurf digitaler integrierter Schaltungen (ASICs)
\nSynthese und statische Zeitanalyse
\nOn-Chip-Bus-Systeme (z. B. Wishbone, AXI-4, APB, AHP)
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Electronic Packaging |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862103<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Electronic Packaging<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung: \u00dcberblick, Wechselwirk. zwischen elektr. und therm. Leistung
\nHalbleiterfert.: Backend-Prozesse, Montage und Verpack. von Chips
\nAdvanced Packaging: Heterogene und Multikomponenten-Geh\u00e4use, Einbett. und verwandte Konzepte
\nHochintegr. Leiterplatten: mehrlagiges Leiterplattendesign, Signalintegr., Routing
\nAktive\/passive K\u00fchlkonzepte f\u00fcr elektron. Bauteile, W\u00e4rmesenken, W\u00e4rmeleitungen
\nChip-Packaging-Konzepte: Flip-Chip, Wire-Bonding, Wechselwirk.n zwischen Chip und Geh\u00e4use und thermische \u00dcberlegungen
\nFortgeschrittenes 3D PCB-Design mit CAD-Tools
\nFestlegung von Fertigungs- und Montagetestpunkten f\u00fcr die Massenprodukt., Flying-Probe-Ger\u00e4te und Nagelplatten-Testvorricht.
\nPlanung von Oszilloskop-Testpunkten
\nImpedanzangepasste Wellenleiter, Differenzleitungen und andere Kupferstrukt., Signalintegrit. in Hochfrequenzanwend.
\nSchnittstellen f\u00fcr die Messung von Mikrowellensignalen, Signalaufbereitung
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Engineering Management 1 |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n M240862108<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Intercultural Communication<\/h5>\n
\n
\n
1.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
1.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Definition und Differenzierung des Begriffs “Kultur”
\nAuseinandersetzung mit der eigenen kulturellen Identit\u00e4t als Ausgangspunkt f\u00fcr kulturelle Unterschiede, die eigene Kultur besser kennen lernen, um unterschiedliche kulturelle Verhaltensweisen erkennen zu k\u00f6nnen
\nKulturelle Vielfalt – Vergleich zwischen den Kulturen der Gruppenmitglieder
\nGrundlagen der Kommunikation: theoretische Modelle und praktische Beispiele
\nZwischenmenschliche Kommunikation und Kommunikationstheorie in einem interkulturellen Kontext
\nEinf\u00fchrung in die Gruppendynamik in einem interkulturellen Kontext
\nEffektive Kommunikation mit multikulturellen Personengruppen in verschiedenen Situationen
\nInterkulturelle Kommunikation und Studienalltag
\nEinf\u00fchrung in das Studium der Elektronik und die damit verbundenen Rechte und Pflichten als Grundlage f\u00fcr einen interkulturellen Austausch \u00fcber pers\u00f6nliche Erwartungen und Ansichten zum gemeinsamen Studienalltag
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Engineering Management 1 |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862107<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
System Requirements Engineering<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung in die Grundlagen der Produktentwicklung (Entwicklungsprozess, Projektorganisation,…)
\nDefinition Systemtechnik
\nV-Modell
\nSystems Engineering Aktivit\u00e4ten & Arbeitsprodukte
\nStrukturierungsprinzipien inkl. Ebenenstruktur
\nRequirements Engineering (Entwicklung vs. Management)
\nSystemdesign in der Produktentwicklung – Requirements Engineering & System
\nArchitektur-Spezifikation
\nModellbasierte Systemtechnik (MBSE) \/ SysML
\nGrundlagen des Requirements Engineering und Anwendung des V-Modells in der Halbleiterindustrie
\nAnforderungsmanagement & Design-to-Test
\nKonformit\u00e4t & Einhaltung
\nIntegration inkl. Integrationsmanagement & Testplanung innerhalb der Produktentwicklung
\nTools f\u00fcr das Anforderungsmanagement
\nMBSE \/ SysML-Modellierungswerkzeuge
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Software Design and Architectures |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862105<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Software Design and Architectures<\/h5>\n
\n
\n
5.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Objektorientierte Programmierung: Vertiefung der Konzepte der objektorientierten Programmierung mit Schwerpunkt auf praktischen Anwendungen. Untersuchung grundlegender Methoden des Konfigurationsmanagements, einschlie\u00dflich Quellcodeversionierung, Build-Automatisierung und Testautomatisierung.
\nObjektorientierte Modellierung: grundlegende Prinzipien der objektorientierten Modellierung mit besonderem Schwerpunkt auf Unified Modeling Language (UML)-Diagrammen wie Paket-, Klassen-, Objekt-, Sequenz-, Zustandsmaschinen- und Aktivit\u00e4tsdiagrammen.
\nObjektorientierter Entwurf: wesentliche Prinzipien des Klassen- und Paketdesigns und ihre Bedeutung f\u00fcr die Erstellung effektiver Softwarel\u00f6sungen
\nDar\u00fcber hinaus wird eine Vielzahl von Entwurfsmustern behandelt, mit besonderem Augenmerk auf deren Relevanz und Implementierung in eingebetteten Systemen.
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n
\n
\n \n

\n 2. Semester<\/span>\n \n\n<\/svg> <\/h4>\n <\/a>\n \n \n
\n \n Machine Learning and Optimization |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862202<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Machine Learning and Optimization<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Allgemeine Konzepte, Algorithmen und Modelle des maschinellen Lernens, wie z. B. eingeschr\u00e4nkte und nicht eingeschr\u00e4nkte Optimierung, Kreuzvalidierung sowie \u00dcber- und Unteranpassung von Modellen
\nDatenaufbereitungstechniken, wie der Umgang mit fehlenden Werten und Ausrei\u00dfern, Datentransformation, Binning und Kodierung kategorischer Variablen
\nAuswahl und Anwendung geeigneter maschineller Lernmodelle f\u00fcr Clustering, Klassifizierung und Regression
\nMetrik-abh\u00e4ngige Modellbewertung und Einsatz des Modells in bestehenden Systemen oder Prozessen
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Radio Frequency Engineering |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862201<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Radio Frequency Engineering<\/h5>\n
\n
\n
7.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung: Elektrodynamik, Maxwellsche Gleichungen
\nLeitungstheorie: Telegraphengleichung, zeitunabh\u00e4ngige Wellengleichung, Spannungs- und Stromwellen auf verlustfreien \u00dcbertragungsleitungen, Wellenwiderstand, Wellenl\u00e4nge, Phasengeschwindigkeit, Reflexionskoeffizient, VSWR, Anpassung, Smith-Diagramm, S-Parameter von Streifenleitungen, Impedanzanpassungsnetzwerke
\nElektromagnetische Wellen: ebene Wellen im Vakuum, ebene Wellen in linearen Medien (Skineffekt, Wirbelstrom, Proximity-Effekt, Verschiebungsstrom), elektromagnetische Wellen in Hohlleitern
\nAntennen und Antennengruppen: Hertzsche Antenne (Eigenschaften des elektromagnetischen Feldes, Fernfeld), lineare Antennen, Antennengruppen
\nRF-Komponenten: Baluns, Richtungskoppler, Leistungsteiler, Zirkulator, doppelt symmetrische Mischer
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n
\n
Vertiefung Embedded Systems Engineering:<\/h5>\n <\/div>\n \n
\n \n Computer Architectures and Programming |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862203<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Computer Architectures and Programming<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung einer Beispiel-Mikroarchitektur und ihres Befehlssatzes
\nAssembler-Programmierung auf der Beispiel-Mikroarchitektur und Befehlsemulation
\nMethoden und Konzepte zur Verbesserung der Leistung von Mikroarchitekturen (z. B. Pipelining, Multiprozessoren, Verzweigungsvorhersage, Ausf\u00fchrung au\u00dferhalb der Reihenfolge, spekulative Ausf\u00fchrung, Cache-Speicher)
\nArbeitsablauf f\u00fcr die Implementierung einer Mikroarchitektur auf programmierbaren System-on-Chip- oder programmierbaren Logikbausteinen sowie die Entwicklung eingebetteter Software f\u00fcr solche Hardware-Architekturen
\nBenchmarking eines modernen Prozessors und seiner Architekturmerkmale
\nBetriebssystemspezifische Hardwarekomponenten und -konzepte (Speicherverwaltung, Cache-Koh\u00e4renz, simultanes Multithreading)
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Digital Signal Processing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862204<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Digital Signal Processing<\/h5>\n
\n
\n
5.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n \u00dcberblick \u00fcber zeitdiskrete Signale und Systeme, einschlie\u00dflich Signaldarstellung, zeitdiskrete Faltung, Eigensignale, die zeitdiskrete Fourier-Transformation (DTFT) und die z-Transformation
\nAnalyse des Abtasttheorems zum Abtasten und Rekonstruieren von Signalen
\nAnalyse der Beziehungen zwischen der zeitkontinuierlichen Fouriertransformation (CTFT), der zeitdiskreten Fouriertransformation (DTFT), der diskreten Fouriertransformation (DFT) und der schnellen Fouriertransformation (FFT)
\nEntwurf von Filtern mit endlicher Impulsantwort (FIR), unendlicher Impulsantwort (IIR) und adaptiven Filtern zur Abschw\u00e4chung, Entzerrung und Erzeugung von Signalen
\nEntwurf von Mehrratensystemen zur Umsetzung von Abtastratenumwandlung und mehrphasigen Filtern
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Software Quality and Security |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862205<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Software Quality and Security<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Software-Inspektion: Untersuchung des Quellcodes, um “Bad Smells” zu identifizieren, Anwendung von Software-Metriken zur Bewertung der Code-Qualit\u00e4t und Verwendung der statischen Code-Analyse, um potenzielle Fehler zu erkennen
\nSoftware-Tests: umfasst Unit-Tests, die auf einzelne Softwarekomponenten abzielen, und Integrationstests, die die Interaktionen zwischen den Komponenten \u00fcberpr\u00fcfen, um eine nahtlose Funktional. zu gew\u00e4hrleisten
\nSichere Kodierung: Programmiertechniken wie Kapselung, Eingabevalidier., Ausgabecodierung, sichere Datendarstellung und robuste Fehlerbehandlung und -protokoll.
\nKryptographie in der Praxis: kryptografische Techniken zur Sicherung von Daten im Ruhezustand, zum Schutz sensibler Informationen vor unbefugtem Zugriff und zur Gew\u00e4hrleist. der Datenintegrit\u00e4t
\nReverse Engineering: Analyse von Bin\u00e4rdateien, um ihre Struktur\/Funktionalit\u00e4t zu verstehen, was h\u00e4ufig bei der Fehlersuche und Sicherheitsforsch. eingesetzt wird
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n
\n
Vertiefung Power Electronic Engineering:<\/h5>\n <\/div>\n \n
\n \n Digital Control Systems |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862209<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Digital Control Systems<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n \u00dcberblick \u00fcber Regelsysteme: Funktionsweise analoger und digitaler Regelsysteme, Komponenten, analog vs. digital, \u00dcbertragungsfunktion, PID
\nIdentifizierung dynamischer Systeme auf der Grundlage diskreter Zeitmodelle
\nEntwurf und Implementierung von digitalen Reglern f\u00fcr SISO-Systeme mit Hilfe von diskreten \u00dcbertragungsfunktionen
\nEntwurf und Implementierung von digitalen Reglern f\u00fcr multivariable Systeme (MISO, MIMO) unter Verwendung der Zustandsraumdarstellung
\nStabilit\u00e4t und Robustheit: Entwurf von Regelsystemen unter Ber\u00fccksichtigung von Unsicherheiten der Anlagenparameter und St\u00f6rungen
\nAnwendung des Regelungsentwurfs f\u00fcr elektrische und elektromechanische Systeme
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Digital Signal Processing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862204<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Digital Signal Processing<\/h5>\n
\n
\n
5.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n \u00dcberblick \u00fcber zeitdiskrete Signale und Systeme, einschlie\u00dflich Signaldarstellung, zeitdiskrete Faltung, Eigensignale, die zeitdiskrete Fourier-Transformation (DTFT) und die z-Transformation
\nAnalyse des Abtasttheorems zum Abtasten und Rekonstruieren von Signalen
\nAnalyse der Beziehungen zwischen der zeitkontinuierlichen Fouriertransformation (CTFT), der zeitdiskreten Fouriertransformation (DTFT), der diskreten Fouriertransformation (DFT) und der schnellen Fouriertransformation (FFT)
\nEntwurf von Filtern mit endlicher Impulsantwort (FIR), unendlicher Impulsantwort (IIR) und adaptiven Filtern zur Abschw\u00e4chung, Entzerrung und Erzeugung von Signalen
\nEntwurf von Mehrratensystemen zur Umsetzung von Abtastratenumwandlung und mehrphasigen Filtern
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Power Electronic Components |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862211<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Power Electronic Components<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n \u00dcberblick \u00fcber die grundlegenden Topologien der DC-DC-Wandlung (Buck, Boost)
\nGatetreiber f\u00fcr MOSFET-Halbbr\u00fccken, Schaltanalyse
\nEntwurf und Implementierung von Eingangs-\/Ausgangsfiltern
\nAnalyse von passiven Leistungskomponenten (Kondensatoren, Spulen, Transformatoren)
\nAufbau und Funktionsweise von Leistungshalbleitern (Dioden, Si-MOSFETs, SiC-MOSFETs, IGBTs, GaN-HEMTs)
\nAnalyse von Sensoren in leistungselektronischen Schaltungen (Temperatur, Geschwindigkeit, Vibration, Spannung, Strom)
\n3D-Modellierung von leistungselektronischen Komponenten f\u00fcr die thermische Simulation
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n
\n
Vertiefung System Test Engineering:<\/h5>\n <\/div>\n \n
\n \n Software Quality and Security |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862205<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Software Quality and Security<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Software-Inspektion: Untersuchung des Quellcodes, um “Bad Smells” zu identifizieren, Anwendung von Software-Metriken zur Bewertung der Code-Qualit\u00e4t und Verwendung der statischen Code-Analyse, um potenzielle Fehler zu erkennen
\nSoftware-Tests: umfasst Unit-Tests, die auf einzelne Softwarekomponenten abzielen, und Integrationstests, die die Interaktionen zwischen den Komponenten \u00fcberpr\u00fcfen, um eine nahtlose Funktional. zu gew\u00e4hrleisten
\nSichere Kodierung: Programmiertechniken wie Kapselung, Eingabevalidier., Ausgabecodierung, sichere Datendarstellung und robuste Fehlerbehandlung und -protokoll.
\nKryptographie in der Praxis: kryptografische Techniken zur Sicherung von Daten im Ruhezustand, zum Schutz sensibler Informationen vor unbefugtem Zugriff und zur Gew\u00e4hrleist. der Datenintegrit\u00e4t
\nReverse Engineering: Analyse von Bin\u00e4rdateien, um ihre Struktur\/Funktionalit\u00e4t zu verstehen, was h\u00e4ufig bei der Fehlersuche und Sicherheitsforsch. eingesetzt wird
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Test Standards and Quality Management |\n Vorlesung\n (VO)\n | Coursecode:\n M240862207<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Test Standards and Quality Management<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Qualit\u00e4tsnormen wie IATF 16949, ISO 9000, ISO 9001
\nProblem- und Risikomanagement
\nR\u00fcckverfolgbarkeit und Produkthaftung
\nToyota-Produktionssystem (kontinuierliche Verbesserung, Kaizen, 5S, …)
\nTestqualit\u00e4t (KPIs, Wirtschaftlichkeit, Fehlervermeidung, Fehlerbehandlung)
\nZuverl\u00e4ssigkeits-Stresstests (z. B. HTOL, HAST, THB, TC)
\nStatistische Testmethoden und die Norm ISO 2859
\nEMV: Einf\u00fchrung und \u00dcberblick, Grundlagen und Theorie, Pr\u00fcfverfahren f\u00fcr integrierte Schaltungen
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Test and Measurement Automation |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862206<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Test and Measurement Automation<\/h5>\n
\n
\n
8.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
5.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung in die Test- und Messautomatis. mit Schwerpunkt auf der Halbleiterindustrie: automatis. Testger\u00e4te und Software f\u00fcr die virtuelle Instrumentierung
\nMessger\u00e4te: Terminologie, wichtige Spezifikationsparameter, Interpretation von Datenbl\u00e4ttern f\u00fcr Stromversorg., Source Measure Units, digitale Multimeter, Funktionsgeneratoren, Oszilloskope\nStandardschnittstell. von Mess-\/Pr\u00fcfsystemen
\nAuswahl von Hard- und Software auf der Grundlage von Testf\u00e4llen und deren Messanforderungen
\nEntwicklung der Kommunikation zwischen dem System und den erforderl. Ger\u00e4tetreibern und Bibliotheken
\nEntwurf und Implement. eines automatis. Testsystems f\u00fcr ein beispielhaftes DUT einschlie\u00dfl. Software, Mess- und Testequipment sowie Hardware (Sensoren, PCB)
\nEntwicklung einer geeigneten Datenlogging-Strategie zur Nachbearbeit. der Rohdaten f\u00fcr die Analyse der Messergebn.
\nAnwendung von Versionskontrollmethoden f\u00fcr entwickelte Messungen, Ergebnisse und Berichte
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n
\n
\n \n

\n 3. Semester<\/span>\n \n\n<\/svg> <\/h4>\n <\/a>\n \n \n
\n \n Engineering Management 2 |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n M240862301<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Project Management<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Projekttypen und Methoden
\nProjektphasen, Meilensteine und Gates
\nProjektpl\u00e4ne
\nMethoden zur Aufwandsabsch\u00e4tzung
\nKommunikationspl\u00e4ne und Besprechungsstrukturen
\nRessourcenbasierte und Skill-basierte Planung
\nRisikomanagement
\nFehlerm\u00f6glichkeits- und Einflussanalyse (FMEA)
\nAgiles Projektmanagement
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Engineering Management 3 |\n Projektarbeit\n (PA)\n | Coursecode:\n M240862302<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Electronic Engineering Project<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
0.50<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n L\u00f6sen einer facheinschl\u00e4gigen technischen Aufgabe unter Anleitung, die dem Ausbildungsstand entspricht.
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n
\n
Vertiefung System Test Engineering:<\/h5>\n <\/div>\n \n
\n \n Automotive Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862309<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Automotive Testing<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung in die Tests von Fahrzeugsystemen
\nVollst\u00e4ndiger \u00dcberblick \u00fcber den Test von Fahrzeugen
\nCAN- und LIN-BusE\/E-Pr\u00fcfst\u00e4ndeFlexRay und Ethernet
\nSystemintegrationstests (FRS)
\nHV-Batterie und Tests
\nElektromagnetische Vertr\u00e4glichkeit (EMV)
\nEMV-Normen f\u00fcr Stra\u00dfenfahrzeuge und integrierte Schaltungen
\nFunktionale Sicherheit (IEC EN 61508, ISO 26262)
\nEinf\u00fchrung in das automatisierte Fahren
\nADAS\/AD: Systemarchitektur, Sensoren und Funktionen, Entwicklungsprozess
\nVirtuelle Beschreibung der statischen Umgebung
\nTestumgebungen f\u00fcr die Verifizierung und Validierung
\nEinf\u00fchrung in die szenariobasierte Verifizierung und Validierung
\nBeschreibung der dynamischen Umgebung (“Szenarien”)
\nArgumente f\u00fcr die Sicherheit
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Design for Test |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862307<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Design for Test<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n JTAG: Boundary-Scan-Architektur und Beschreibungssprache, Interna des Tap-Controllers
\nTesten digitaler Schaltungen: Testmodi, parallele Tests, Scantest, integrierte Selbsttests
\nModularisierung und Testen
\nLebensdauermanagement: Wafertest, Backend-Test, Test von Produktr\u00fcckl\u00e4ufern (Feldtests)
\nFehlersimulation: Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit, Zug\u00e4nglichkeit von Schaltungen
\nScan-Entwurf
\nAutomatische Generierung von Testmustern
\nTest-Komprimierung
\nVerz\u00f6gerungstest
\nIddq-Test
\nLogic Built in self test
\nSpeicher-Test
\nFehlerdiagnose
\nAnalog- und Mixed-Signal-Tests (IEEE 1149.4)
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Production Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862310<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Production Testing<\/h5>\n
\n
\n
7.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
5.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Prozesse in der Elektronikproduktion und Chipfertigung
\nTestprogrammentwicklung und Fehlersuche
\nRemote-Debugging und Remote-Entwicklung
\nKonformit\u00e4tsmatrix
\nMethoden zur Optimierung der Testzeit
\nTestablauf, Testeinf\u00fcgungen
\nGuard-Band (Test-Limit-Management)
\nPAT (part average testing)
\nPCB mit Testadapter
\n\u00dcbersicht und Architektur der Testger\u00e4te
\nBinning und Grading
\nDatenerfassung
\nWafertest und Geh\u00e4usetest
\nATE-Programmierung
\nR\u00fcckverfolgbarkeit
\nTrimmen und Fixieren
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Validation Test Development |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862308<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Validation Test Development<\/h5>\n
\n
\n
5.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
3.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Validierung und Produktionstest
\nErstellung eines Pr\u00fcfplans
\nAutomatische Testvektorgenerierung (ATVG)
\nStruktur-, Block- und Systemtest
\nAutomatisierte Pr\u00fcfung
\nCharakterisierung, Vergleich mit Datenbl\u00e4ttern, Eckentests
\nValidierung der Robustheit
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n
\n
Vertiefung Embedded Systems Engineering:<\/h5>\n <\/div>\n \n
\n \n Continuous Delivery in Embedded Systems |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862305<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Continuous Delivery in Embedded Systems<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n IoT-Architekturen: Auswahl von Architekturmustern mit Schwerpunkt auf IoT-Systemen, Message-Oriented Architectures und Microservices
\nArchitekturbezogene Risikoanalyse: Analyse der Angriffsfl\u00e4che und Erstellung von Bedrohungsmodellen zur Bewertung potenzieller Sicherheitsrisiken
\nLebenszyklus der Softwareentwicklung: Phasen der Softwareentwicklung, und Prozessmodelle zur Verwaltung des Softwareentwicklungsprozesses
\nContinuous Integration Pipeline: Pre-Commit-Phase (Code-Inspektion, testgetriebene Entwicklung), Commit-Phase (Unit-Tests, Sicherheitstests, statische Code-Analyse, Artefakt-Repository)
\nContinuous Delivery Pipeline: Acceptance Stage (Bereitstellung in der Testumgebung, Akzeptanztests, Penetration Tests), Production Stage (Freigabe f\u00fcr die Produktion)
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Design Verification |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862304<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Design Verification<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung in die funktionale Verifikation
\nFunktionale Verifikation in der elektronischen Schaltungsentwicklung: Systemebene, Schaltplan und PCB
\nFunktionale Verifikation im System-on-Chip (SoC)-Entwurfsablauf
\nSicherstellung der Korrektheit und Zuverl\u00e4ssigkeit eines Entwurfs
\nAnforderungsgesteuerte Verifikation: Anforderungsspezifikation und Verifikationsplan, Simulation und Erstellung von Testbenches
\nVerifikationsmethoden wie Pseudo-Zufallsstimuli-Generierung, Coverage-getriebene Verifikation, Assertion-basierte Verifikation und Selbstpr\u00fcfungsmechanismen
\nRTL und Gatelevel-Simulation
\nVerwendung von Hardwarebeschreibungssprachen f\u00fcr die Verifikation
\nBerichterstattung \u00fcber die Ergebnisse und Behebung der identifizierten Probleme
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Realtime Computing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862306<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Realtime Computing<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n \u00dcbersicht \u00fcber die Computerarchitektur
\nHW\/SW-Partitionierung und Synchronisierung von HW- und SW-Aufgaben zur Vermeidung von Race Conditions
\nMultitasking\/Multithreading und Scheduling, Kommunikation zwischen Prozessen (Pipes, Queues, Shared Memories)
\nBetriebssysteme (embedded Linux, freie RTOS)
\nUnix\/Linux-\u00d6kosystem
\nProgrammierung von Toolchains
\nFehlersuche und Profiling
\nVernetzung
\nHW-Beschleunigung, kundenspezifische Schaltungen und hardened communication interfaces im FPGA
\nSW-HW-Kommunikation mit Registern, Dualport-RAMs, FIFO-Queues und Direct Memory Access (DMA) sowie Scheduling im FPGA-Baustein
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n System-on-Chip Design |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862303<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
System-on-Chip Design<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Grundlagen einer modernen Befehlssatzarchitektur (z.B. RISC-V, ARM, etc.)
\nEntwurf und Simulation einer kundenspezifischen Busperipherie
\nEntwicklung eines Top-Level-Chipdesigns mit einem Prozessorkern, kundenspezifischer Busperipherie sowie vorhandenem IP aus Bibliotheken
\nInstanziierung der Architektur auf einem programmierbaren Logikbaustein (FPGA) und Verifizierung durch Ausf\u00fchrung von Softwareanwendungen
\nEinf\u00fchrung in einen Chip-Design-Workflow und eine Toolchain f\u00fcr anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs)
\nImplementierung des Top-Level-Chipdesigns f\u00fcr die Produktion
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n
\n
Vertiefung Power Electronic Engineering:<\/h5>\n <\/div>\n \n
\n \n Electric Mobility |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862314<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Electric Mobility<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung in die Elektromobilit\u00e4t: elektrischer Antriebsstrang, Pr\u00fcfeinrichtungen, Typen, Anforderungen
\nElektrische Wechselstrommotoren: Auslegung und Konstruktion, Betriebsverhalten
\nUniverselle Modellierung von elektrischen Motoren, einschlie\u00dflich des Netzes als virtueller Motor
\nOptimierte Regler f\u00fcr mehrphasige Systeme (z.B. feldorientierte Regelung f\u00fcr elektrische Antriebe)
\nAnalyse von Pr\u00fcfsystemen f\u00fcr Komponenten der Elektromobilit\u00e4t
\nModellbasierter Entwurf von Elektromobilit\u00e4tssystemen (HIL, P-HIL)
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Power Converter Design |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862312<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Power Converter Design<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Entwuf nichtisolierter DC\/DC-Wandler f\u00fcr h\u00f6here Dichte und Effizienz (Interleaving, mehrstufig)
\nAuswahl von Leistungshalbleitern entsprechend den Entwurfskriterien
\nEntwurf von DC-AC-Wandlern mit Schwerpunkt auf Anwendungen in Motoren oder Netzschnittstellen
\nEntwurf isolierte DC-DC-Wandlern einschlie\u00dflich Resonanzwandlern (Sperrwandler, Vollbr\u00fccke, Doppelaktivbr\u00fccke, Serienresonanzwandler)
\nSimulationsgest\u00fctzter Entwurf von PWM-Regelverfahren
\nAnalyse von Reglern im Bereich der Leistungselektronik
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Power Electronic Device Engineering |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n M240862313<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Power Electronic Device Engineering<\/h5>\n
\n
\n
6.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Niederspannungsrichtlinie
\nAnalyse der Schutzma\u00dfnahmen und der Personensicherheit
\nAnalyse typischer leistungselektronischer Ger\u00e4te, z. B. PV-Wechselrichter
\nSimulationsbasierter Entwurf von EMI-Filtern einschlie\u00dflich FEM-Elektromagnetismus
\nEntwurf von Hochstrom\/niedrig induktiven PCBs unter Ber\u00fccksichtigung von Wirbelstromeffekten
\nAnalyse von mechanischen Baugruppen
\nKonzept und Implementierung von K\u00fchlsystemen f\u00fcr Leistungselektronik
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Renewable Energy |\n Vorlesung\n (VO)\n | Coursecode:\n M240862311<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Renewable Energy<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Wandel zu elektrifizierten Systemen: \u00dcberblick und Marktsituation
\nErneuerbare Energieerzeugung: Photovoltaikanlagen, Windenergie, Wasserkraft, Brennstoffzellen, E-Fuels, eingesetzte Leistungselektronik
\nEnergiespeichersysteme: Wasserstoffkreislauf, Batteriespeicher, mechanische Speicher, eingesetzte leistungselektronische Ger\u00e4te
\nIntelligente Netze: Ladetechniken, DC-Mikronetze, Betrieb, Steuerung, Vorteile
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n
\n
\n \n

\n 4. Semester<\/span>\n \n\n<\/svg> <\/h4>\n <\/a>\n \n \n
\n \n Engineering Management 4 |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n M240862401<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Innovation Management<\/h5>\n
\n
\n
2.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Einf\u00fchrung in das Innovationsmanagement: Definition, Konzepte und Umfang
\nArten von Innovation: Produktinnovation, Prozessinnovation, Dienstleistungsinnovation, Gesch\u00e4ftsmodell-Innovation
\nInnovationsprozess: Ideenfindung, Ideenpr\u00fcfung und -auswahl, Entwicklung und Prototyping, Test und Validierung, Umsetzung und Vermarktung
\nF\u00f6rderung der Innovationskultur: Schaffung einer Kultur des Experimentierens und der Risikobereitschaft, F\u00f6rderung der Vielfalt zur Steigerung der Kreativit\u00e4t, Rolle der F\u00fchrung
\nZusammenarbeit und Kooperation f\u00fcr Innovation: interdisziplin\u00e4re Teams, effektive Kommunikation
\nManagement von Innovationsrisiken: erkennen von innovationsbezogenen Risiken, lernen aus Fehlschl\u00e4gen, kurz- und langfristige Innovationsziele
\nInnovationsf\u00fchrung und -strategie: Entwicklung und Kommunikation einer Innovationsstrategie, F\u00fchrung von Ver\u00e4nderungen, Abstimmung der Innovationsbem\u00fchungen auf die Unternehmensziele
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Engineering Management 4 |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n M240862402<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Presentations and Meetings<\/h5>\n
\n
\n
1.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
1.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Zwischenmenschliche Kommunikation und Kommunikationstheorie im interkulturellen Kontext
\nVorbereitung und Durchf\u00fchrung von internationalen Meetings
\nPr\u00e4sentationsvorbereitung und Pr\u00e4sentationstechniken
\nWebmeetings
\nEffektive Kommunikation mit multikulturellen Personengruppen in unterschiedlichen Situationen
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Master's Thesis and Scientific Working |\n Modul-\/Abschlusspr\u00fcfung\n (FA)\n | Coursecode:\n M240862405<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Master's Exam<\/h5>\n
\n
\n
3.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
0.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Die im Zuge dieser Lehrveranstaltung durchgef\u00fchrte kommissionelle Pr\u00fcfung erfolgt in \u00dcbereinstimmung mit den Anforderungen an abschlie\u00dfende Pr\u00fcfungen in FH-Masterstudieng\u00e4ngen gem\u00e4\u00df FHStG.id.g.F.
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Master's Thesis and Scientific Working |\n Masterarbeit\n (MA)\n | Coursecode:\n M240862404<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Master's Thesis<\/h5>\n
\n
\n
22.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
0.50<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n L\u00f6sen einer Ingenieursaufgabe aus dem Fachbereich im industriellen oder wissenschaftlichen Umfeld
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n \n Master's Thesis and Scientific Working |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n M240862403<\/span>\n <\/div>\n Unterrichtssprache\n Englisch<\/small>\n
\n
Scientific Working<\/h5>\n
\n
\n
2.00<\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
1.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n Wissenschaftliche Methoden und wissenschaftliche Gemeinschaft
\nLiteratursuche und Zitierregeln: wie man klar und pr\u00e4zise schreibt: Aufbau und Verfassen von wissenschaftlichen Arbeiten
\nVerfassen eines Abstracts
\nVerfassen eines wissenschaftlichen Berichts in Form eines Konferenzbeitrags
\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n \n
\n

Auslaufender Studienplan<\/h2>\n <\/div>\n
\n
\n \n

\n 1. Semester<\/span>\n \n\n<\/svg> <\/h4>\n <\/a>\n \n \n
\n
\n Digital Electronics |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862103<\/span>\n <\/div>\n
\n
Digital Electronics<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Grundlagen von Hardwarebeschreibungssprachen \n\u2022 Kombinatorik und sequentielle Logik in HDL \n\u2022 Simulieren und Testen von Schaltungen in HDL \n\u2022 Entwicklung von synthetisierbarem HDL-Code \n\u2022 Tooling zum Synthetisieren von HDL auf ein FPGA \n\u2022 Programmierung der Schnittstellen eines Mikrokontrollers \n\u2022 Kommunikation zwischen Mikrokontroller und FPGA \u00fcber RS-232, I\u00b2C und SPI\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Mathematical Methods in Test Engineering |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862101<\/span>\n <\/div>\n
\n
Mathematical Methods in Test Engineering<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 H\u00e4ufigkeitsverteilungen und Visualisierung von Daten \n\u2022 Datenbeschreibung durch Lagema\u00df und Dispersionsma\u00df \n\u2022 Wahrscheinlichkeitsrechnung und Normalverteilung \n\u2022 Stichprobenverteilungen \n\u2022 Sch\u00e4tzverfahren und Test von Hypothesen \n\u2022 Korrelation und lineare Regression \n\u2022 t-Test, Chi-Quadrat-Test und Varianzanalyse (ANOVA) \n\u2022 Fallstudien von fachspezifischen Anwendungen (beispielsweise Testabdeckung, \n\u2022 Fehlersimulation)\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Mixed-Signal Electronics |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862104<\/span>\n <\/div>\n
\n
Mixed-Signal Electronics<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 \u00dcberblick \u00fcber Sensortypen und deren Anwendungen (zum Beispiel induktive \n  Sensoren, kapazitive Sensoren, RADAR, LIDAR, Ultraschallsensoren,   Beschleunigungssensoren, Dehnmessstreifen, Durchflussmesser, Magnetometer,   Hallsensoren, Temperatursensoren) \n\u2022 Schnittstellen und Messverst\u00e4rker f\u00fcr Sensoren \n\u2022 Signalverarbeitung vom Sensor zum digitalen Signal \n\u2022 Analog-Digital-Umsetzer \n\u2022 Synchronisation von Systemen \n\u2022 analoge and digitale Filter \n\u2022 elektronische Messger\u00e4te und deren typischen Einsatzgebiete beim Testen\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Software Environments and Programming |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862102<\/span>\n <\/div>\n
\n
Software Environments and Programming<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Objektorientierte SW-Entwicklung in Python und LabVIEW \n\u2022 Python Standard-Bibliotheken und testspezifische Bibliotheken \n\u2022 Schnittstellen von Mess-\/Testsystemen (TCP-IP, UDP, GPIB, RS-232\/422, USB) \n\u2022 Kommunikation zwischen System und daf\u00fcr notwendigen Ger\u00e4tetreibern und Bibliotheken \n\u2022 Auswahl des Datenformats und\/oder der Datenbank zur Ergebnisarchivierung \n\u2022 Versionsverwaltung\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n System Requirements and Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862105<\/span>\n <\/div>\n
\n
System Requirements and Testing<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Grundlagen mechatronischer Systeme \n\u2022 Strukturelle vs. Anwendungstests \n\u2022 V-Modell f\u00fcr mechatronische Systeme \n\u2022 Anforderungsmanagement und Testen \n\u2022 Teststrategien f\u00fcr Systeme (Test-Planning, Test-Methods, Test-F\u00e4lle) \n\u2022 Konformit\u00e4ts-Matrix \n\u2022 Modellbasierte Entwicklung \n\u2022 Funktionale Tests \n\u2022 Hardware-in-the-Loop \n\u2022 Software-in-the-Loop \n\u2022 Model-in-the-Loop \n\u2022 Test von System- und Bauteilspezifikationen\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n
\n
\n \n

\n 2. Semester<\/span>\n \n\n<\/svg> <\/h4>\n <\/a>\n \n \n
\n
\n Data Mining and Processing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862201<\/span>\n <\/div>\n
\n
Data Mining and Processing<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Signalverarbeitung zur Datenauswertung (Filtern, Spektralanalyse, \u00a0;\u00a0;Interpolation, Dezimation) \n\u2022 Methoden und Datenstrukturen f\u00fcr Zeitreihenanalyse \n\u2022 Visualisierung von Daten und der Protokollierung, Abh\u00e4ngigkeitsmodellierung, Clusterbildung, Klasssifizierung und Regression \n\u2022 Event-Detektion \n\u2022 Visualisierung von Daten und Berichterstellung\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n PCB Design for Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862204<\/span>\n <\/div>\n
\n
PCB Design for Testing<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 EMV-gerechtes Leiterplattendesign \n\u2022 Shielding und Guarding \n\u2022 \u00dcbersprechen und parasit\u00e4re Effekte \n\u2022 Controlled Impedance Routing \n\u2022 Power Integrity \n\u2022 Impedanzanpassung \n\u2022 Teststrukturen f\u00fcr Leiterplatten \n\u2022 Kontakierung (Pr\u00fcfsockel, Nadelkarten, Steckverbindungen) \n\u2022 Best\u00fcckung und Komponentenauswahl \n\u2022 Analyse von guten und schlechten Leiterplattendesigns\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Quality and Reliability Testing |\n Vorlesung\n (VO)\n | Coursecode:\n 200862205<\/span>\n <\/div>\n
\n
Quality and Reliability Testing<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Qualit\u00e4t und Zuverl\u00e4ssigkeit: Definition, Bewertung, Indikatoren und Planung \n\u2022 Qualifikation von Systemen und Komponenten \n\u2022 ESD und Latch-Up-Effekt \u2022 EMC Control \n\u2022 High and low Temperature Operating Limits (HTOL\/LTOL), \n\u2022 Highly Accelerated Stress Test (HAST) \n\u2022 High Temperature Storage Life (HTSL) \n\u2022 Temperature Humidity Bias (THB)\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Software Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862202<\/span>\n <\/div>\n
\n
Software Testing<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Software-Entwicklungszyklen \n\u2022 Grundlegende Konzepte f\u00fcr Softwaretests \n\u2022 Tests im Software Life-Cycle \n\u2022 Statische und dynamische Teststrategien \n\u2022 Test Design und Management \n\u2022 Teststrategien f\u00fcr Softwaretests \n\u2022 Regressionstest, Modultest und Integrationstest \n\u2022 Werkzeuge f\u00fcr Softwaretests \n\u2022 Tests von Firmware \n\u2022 Versionierung und Dokumentation\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Test Standards |\n Vorlesung\n (VO)\n | Coursecode:\n 200862206<\/span>\n <\/div>\n
\n
Test Standards<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Verifizierung von Designs und Test von Leiterplatten entsprechend dem JTAG-Standard \n\u2022 Funktionale Sicherheit nach ISO 26262 \n\u2022 Qualit\u00e4tsnormen wie IATF 16949 \n\u2022 \u00dcberblick \u00fcber EMV-Normen \u2022 Statistische Testmethoden und Norm ISO 2859\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Test and Measurement Automation Laboratory |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862203<\/span>\n <\/div>\n
\n
Test and Measurement Automation Laboratory<\/h5>\n
\n
\n
6.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Aufbau von automatisierten Testsystemen anhand eines komplexeren Beispiels   inklusive Software, Mess-\/Testger\u00e4ten und Hardware (Sensoren, PCB) \n\u2022 Auswahl von Hardware und Software anhand von Testf\u00e4llen und deren   Messanforderungen \n\u2022 Inbetriebnahme und Automatisierung des Testsystems \n\u2022 Testdokumentation und Versionskontrolle \n\u2022 Measurement System Analysis (MSA)\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n
\n
\n \n

\n 3. Semester<\/span>\n \n\n<\/svg> <\/h4>\n <\/a>\n \n \n
\n
\n Project |\n Projektarbeit\n (PA)\n | Coursecode:\n 200862304<\/span>\n <\/div>\n
\n
Project<\/h5>\n
\n
\n
9.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
1.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n L\u00f6sen einer technischen Aufgabe zum Thema Testing unter Anleitung, die dem Ausbildungsstand entspricht.\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Project Management |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n 200862302<\/span>\n <\/div>\n
\n
Project Management<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Projektplan \n\u2022 Zeit- und Ressourcenplanung \n\u2022 Rollen (Entwickler, Tester) \n\u2022 Projektphasen, Meilensteine, Gates und kritischer Pfad \n\u2022 Zusammenspiel mit dem Qualit\u00e4tsmanagement \n\u2022 Fehlermanagement \n\u2022 Umsetzung in Fallstudien \n\u2022 Risikoanalyse mit der Failure Mode and Effects Analysis-Methode (FMEA) \n\u2022 Projektendreview (Lessons learned)\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Security and Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862301<\/span>\n <\/div>\n
\n
Security and Testing<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Grundlagen der Informationssicherheit \n\u2022 Software-Methoden der Informationssicherheit (z.B. Verschl\u00fcsselungen,   Zertifikate) \n\u2022 Hardware-Methoden der Informationssicherheit (z.B. Side-channel Attacken und   Gegenma\u00dfnahmen) \n\u2022 Beispiele f\u00fcr erfolgreiche Security Angriffe und m\u00f6gliche Gegenma\u00dfnahmen\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Technical Documentation |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n 200862303<\/span>\n <\/div>\n
\n
Technical Documentation<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Fachsprache Technik und Informationstechnologie \n\u2022 Zielgruppenorientiertes Schreiben \n\u2022 Lesbarkeit und Verst\u00e4ndlichkeit \n\u2022 Gestaltung, Typografie, Layout, Informationsgrafik, technische Illustration \n\u2022 Testspezifikation, Fehlerverfolgung und kundenspezifische Reports \n\u2022 Formattechnische und sprachliche Standardisierung durch den Einsatz von Vorlagen und Standards\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n
\n
Vertiefung Semiconductor Testing:<\/h5>\n <\/div>\n \n
\n
\n Semiconductor Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862305<\/span>\n <\/div>\n
\n
Design for Test<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Begriffsdefinition \n\u2022 Testing von Halbleitern (Anwendungsbeispiel) \n\u2022 Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit und Zug\u00e4nglichkeit von Schaltungen \n\u2022 Modularisierung und Testen \n\u2022 Testmodes \n\u2022 Parallele Tests \n\u2022 Life Time Management: Wafer-Test, Backend-Test, Test of Product Returns (Field   Tests) \n\u2022 Strukturelles Testen (White Box, Grey Box, Black Box) \n\u2022 Anwendungs-\/Funktionale Tests \n\u2022 Testen von digitalen Schaltungen (Scantest, JTAG, eingebaute Selbsttests) \n\u2022 Testen von Mixed-Signal Schaltungen (eingebaute Selbsttests, IEEE 1149.4)\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Semiconductor Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862307<\/span>\n <\/div>\n
\n
Production Testing<\/h5>\n
\n
\n
4.50\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Prozesse in der Elektronikproduktion und Chipfertigung \n\u2022 Testprogrammentwicklung und -debugging \n\u2022 Remote Debugging und Remote Entwicklung \n\u2022 Compliance Matrix \u2022 Methoden zur Testzeit-Optimierung \n\u2022 Test Flow, Test Insertions \n\u2022 Guard-Band (Test-Limit Management) \n\u2022 PAT (Part Average Testing) \n\u2022 Leiterplatte mit Testadapter \n\u2022 Testequipment \u00dcbersicht und Architektur \n\u2022 Binning und Grading \n\u2022 Data Logging \n\u2022 Wafertest und Package Test \n\u2022 Programming ATE\n\u2022 Traceability \n\u2022 Trimming and Fusing\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Semiconductor Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862306<\/span>\n <\/div>\n
\n
Verification and Validation Testing<\/h5>\n
\n
\n
4.50\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Validierung und Produktionstest \n\u2022 Erstellung eines Verifikationsplan \n\u2022 Automatic test vector generation (ATVG) \n\u2022 Struktureller, Block- und Systemtest \n\u2022 Automatisierter Test \n\u2022 Charakterisierung, Vergleich mit Datenblatt, Corner Testing \n\u2022 Robustness Validation\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n
\n
Vertiefung System Testing:<\/h5>\n <\/div>\n \n
\n
\n System Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862308<\/span>\n <\/div>\n
\n
Machine Learning and Optimization for Testing<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Optimierungsalgorithmen (heuristische Methoden, interaktive Methoden) \n\u2022 Maschinelles Lernen (\u00fcberwacht und nicht-\u00fcberwacht) \n\u2022 Annotation of Data, Detection Rate and Overfitting \n\u2022 Arten von neuronalen Netzen \n\u2022 Lernverfahren f\u00fcr neuronale Netze \n\u2022 Verfizierung der Leistung eines neuronalen Netzes mit Testdaten \n\u2022 Leistungssteigerung eines neuronalen Netzes\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n System Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862310<\/span>\n <\/div>\n
\n
Testing of Automotive Systems<\/h5>\n
\n
\n
4.50\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Testplattformen in der Automobilindustrie (Laborfahrzeug, Teilsysteme,   Gesamtfahrzeugtests) \n\u2022 Elektrische Sicherheit (HV-Tests an Systemen und Gesamtfahrzeug) \n\u2022 ESD- und EMC-Testing \n\u2022 Sensorstimulation bzw. Sensorsimulation f\u00fcr den VIL \n\u2022 Fallbeispiel aus Automobilbereich \n\u2022 Stufen des automatisierten Fahrens nach SAE \n\u2022 Fahrerassistenzsysteme (ADAS) und autonomes Fahren (AD) \n\u2022 Szenario-basierte Validierung von ADAS\/AD\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n System Testing |\n Integrierte Lehrveranstaltung\n (IL)\n | Coursecode:\n 200862309<\/span>\n <\/div>\n
\n
Testing of Mechatronic Systems<\/h5>\n
\n
\n
4.50\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
4.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Kennenlernen von mechatronischen Systemen unterschiedlicher Komplexit\u00e4t \n\u2022 Funktionaler Zusammenhang zwischen Gesamtsystem und den beteiligten   Subsystemen \n\u2022 Validierungsumgebungen f\u00fcr mechatronische Systeme (MIL, SIL, HIL, Pr\u00fcfstand) \n\u2022 Erstellung und Validierung von Modellen von Subsystemen \n\u2022 Korrelation von Realversuch mit Modellversuch \n\u2022 Sinnvolle Verteilung der notwendigen Validierungstests auf die \u00a0;\u00a0;unterschiedlichen Testumgebungen \n\u2022 M\u00f6glichkeiten zur Absch\u00e4tzung der Testabdeckung\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n
\n
\n \n

\n 4. Semester<\/span>\n \n\n<\/svg> <\/h4>\n <\/a>\n \n \n
\n
\n Intercultural Communication and Meetings |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n 200862401<\/span>\n <\/div>\n
\n
Intercultural Communication and Meetings<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
2.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Zwischenmenschliche Kommunikation und Kommunikationstheorie im   interkulturellen Kontext \n\u2022 Vorbereitung und Durchf\u00fchrung von internationalen Meetings \n\u2022 Pr\u00e4sentationsvorbereitung und Pr\u00e4sentationstechniken \n\u2022 Webmeetings \n\u2022 Effektive Kommunikation mit multikulturellen Personengruppen in   unterschiedlichen Situationen\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Scientific Working |\n Masterarbeit\n (MA)\n | Coursecode:\n 200862403<\/span>\n <\/div>\n
\n
Master's Thesis <\/h5>\n
\n
\n
24.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
1.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n L\u00f6sen einer Ingenieursaufgabe aus dem Fachbereich im industriellen Umfeld. Die im Zuge dieser Lehrveranstaltung durchgef\u00fchrte kommissionelle Pr\u00fcfung erfolgt in \u00dcbereinstimmung mit den Anforderungen an abschlie\u00dfende Pr\u00fcfungen in FH-Masterstudieng\u00e4ngen gem\u00e4\u00df FHStG.id.g.F.\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n \n
\n
\n Scientific Working |\n Seminar\n (SE)\n | Coursecode:\n 200862402<\/span>\n <\/div>\n
\n
Scientific Writing<\/h5>\n
\n
\n
3.00\n <\/h5>\n ECTS<\/span>\n <\/div>\n
\n
1.00<\/h5>\n SWS<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n\n \n\n \u2022 Wissenschaftliche Methoden und Wissenschaftsbetrieb \n\u2022 Literaturrecherche und Zitierregeln \n\u2022 Wissenschaftliche Arbeiten strukturieren und schreiben \n\u2022 Planung der n\u00f6tigen Arbeitsschritte sowie Zeit- und Ressourcenplanung\n\u2022 wissenschaftliche Ausarbeitung einer fachspezifischen Aufgabenstellung \n\u2022 Pr\u00e4sentation von Zwischen- und Endergebnis(sen) \n\u2022 Eine wissenschaftliche Arbeit in Form eines Konferenzbeitrages erstellen\n <\/div>\n\n <\/div>\n <\/button>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n\n\n\n\n\n
\n
\n
\n \n
\n \n\n \n<\/svg>
\n \n Flyer mit Curriculum\n <\/span>\n\n
\n 568 kB<\/span>\n PDF<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/a>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n\n\n
\n
\n
\n
\n
\n

Lehrinhalte<\/h3>\n<\/div>\n\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n\n\n\n
\n
\n
\n \n
\n \n\n \n<\/svg>
\n \n 1. Semester\n <\/span>\n\n
\n 219 kB<\/span>\n PDF<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/a>\n <\/div>\n
\n \n
\n \n\n \n<\/svg>
\n \n 2. Semester\n <\/span>\n\n
\n 179 kB<\/span>\n PDF<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/a>\n <\/div>\n
\n \n
\n \n\n \n<\/svg>
\n \n 3. Semester\n <\/span>\n\n
\n 181 kB<\/span>\n PDF<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/a>\n <\/div>\n
\n \n
\n \n\n \n<\/svg>
\n \n 4. Semester\n <\/span>\n\n
\n 158 kB<\/span>\n PDF<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/a>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Um die vielseitige und praxisbezogene Ausbildung bestm\u00f6glich abzubilden, sind alle Inhalte des Studiums in themenbezogene Module zusammengefasst. Eine \u00dcbersicht aller Module mit zugeh\u00f6rigen Lehrveranstaltungen finden Sie hier.<\/p>\n","protected":false},"author":11,"featured_media":0,"parent":10000053,"menu_order":22,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"acf":[],"aioseo_notices":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10000055"}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/users\/11"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=10000055"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10000055\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":10000169,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10000055\/revisions\/10000169"}],"up":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10000053"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/embedded-systems-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=10000055"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}