{"id":10000028,"date":"2019-10-29T14:25:45","date_gmt":"2019-10-29T13:25:45","guid":{"rendered":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/?page_id=28"},"modified":"2025-03-07T09:55:47","modified_gmt":"2025-03-07T08:55:47","slug":"das-studium","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/im-studium\/das-studium\/","title":{"rendered":"Das Studium"},"content":{"rendered":"\n
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\u201eDas systematische Testen komplexer intelligenter Systeme ist eine der anspruchsvollsten Aufgaben der Zukunft. Mit unserer Ausbildung stellen wir uns dieser Herausforderung, indem wir unseren Studierenden das Wissen und die F\u00e4higkeiten f\u00fchrender Expert:innen aus Industrie und Wissenschaft zur Verf\u00fcgung stellen.\u201c<\/div>\n FH-Prof. Priv.-Doz. DI Dr. techn. Christian Vogel, Leiter des Instituts Electronic Engineering<\/span>\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n\n\n
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Die Schwerpunkte des Masterstudiums<\/h3>\n<\/div>\n\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n\n\n
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KI. Maschinelles Lernen und Datenanalyse.<\/h4>\n

Sie vertiefen Ihr Verständnis für statistische Methoden und Datenanalyse, um datengetriebene Lösungen für verschiedene Anwendungsgebiete zu entwickeln. Sie lernen fortschrittliche Techniken und Algorithmen des maschinellen Lernens zu verstehen und anzuwenden, um Muster und Erkenntnisse aus großen Datensätzen zu extrahieren.<\/p>\n

Innovativ. Testautomatisierung.<\/h4>\n

Sie erwerben tiefgreifendes Wissen über den Einsatz spezifischer Software-Tools und Programmiersprachen, um automatisierte Tests für High-Tech-Produkte zu entwickeln und anzuwenden. Mit diesen Fähigkeiten verbessern Sie die Qualitätssicherung in der High-Tech-Industrie und unterstützen diese dabei innovative Produkte schneller auf den Markt zu bringen.<\/p>\n

Zuverlässig. Automotives Testen.<\/h4>\n

Das intensive Testen von elektronischen Systemen in der Automobilindustrie ist entscheidend, um die Sicherheit von Fahrzeugen zu gewährleisten. Sie lernen elektronische Assistenzsysteme von Notbremssystemen über Spurhalteassistenten bis hin zu autonomen Fahrsystemen zu verstehen und dafür Testsysteme zu entwickeln, um die Zuverlässigkeit solcher Systeme sicherzustellen.<\/p>\n

High-Tech. Chipfertigung.<\/h4>\n

In der High-Tech-Chipfertigung ist ein effizienter Testprozess von entscheidender Bedeutung, um integrierte Schaltungen zuverlässig und in hoher Qualität herstellen zu können. Die Studierenden lernen effiziente Testverfahren für die Chipindustrie zu entwickeln und anzuwenden sowie entsprechende Teststrukturen auf dem Chip zu integrieren. Es stehen Ihnen dafür Speziallabore mit Chip-Testern zur Verfügung.<\/p>\n

Angewandte Forschung.<\/h4>\n

Nationale und internationale Kooperationen mit Hochschulen und Unternehmen ermöglichen Ihnen die direkte Mitarbeit an innovativen Technologieprojekten. Außerdem vertiefen Sie Ihr Wissen auf dem Gebiet Ihrer Masterarbeit.<\/p>\n\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n\n\n\n\n\n\n

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Organisation<\/h3>\n<\/div>\n\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n\n\n
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Unsere Studienorganisation zeichnet sich durch eine äußerst praxisorientierte Herangehensweise aus. In exzellent ausgestatteten Laboren arbeiten Studierende in kleinen Gruppen, um eine individuelle Betreuung und viele praktische Erfahrungen zu gewährleisten. Darüber hinaus bündeln wir die Studien- und Präsenzzeiten von Mittwoch bis Freitag. Das ermöglicht es Ihnen durch eine Teilzeitbeschäftigung in einem facheinschlägigen Unternehmen zusätzliche Praxis zu sammeln.<\/p>\n\n <\/div>\n <\/div>\n <\/div>\n<\/div>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Durch eine inhaltlich umfangreiche und fachlich fundierte Ausbildung schaffen wir die Basis f\u00fcr Ihre berufliche Zukunft. Welche allgemeinen Inhalte, fachlichen Themen und spezifischen Schwerpunkte Sie im Studium erwarten, erfahren Sie hier.<\/p>\n","protected":false},"author":11,"featured_media":10000155,"parent":10000027,"menu_order":21,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"acf":[],"aioseo_notices":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10000028"}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/users\/11"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=10000028"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10000028\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":10000394,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10000028\/revisions\/10000394"}],"up":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10000027"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/media\/10000155"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.fh-joanneum.at\/system-test-engineering\/master\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=10000028"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}