Automated Test Lab

Die zuverlässige Prüfung und Charakterisierung integrierter Schaltungen ist ein wesentlicher Bestandteil der Halbleiterentwicklung. Das Automated Test Lab des Instituts Electronic Engineering an der FH JOANNEUM bietet dafür eine leistungsfähige Infrastruktur und umfassende Expertise im Bereich Automated Test Equipment (ATE).

Im Mittelpunkt stehen zwei industrielle Testsysteme der Hersteller Advantest und Teradyne, wie sie auch in der internationalen Halbleiterindustrie eingesetzt werden. Sie ermöglichen die Entwicklung, Durchführung und Analyse automatisierter Tests an integrierten Schaltungen. Ergänzend dazu umfasst das Prüfspektrum Tests auf Leiterplattenebene sowie In-Circuit- und Funktionstests elektronischer Systeme.

Das Labor richtet sich insbesondere an Halbleiterhersteller, Entwickler:innen integrierter Schaltungen, Elektronikunternehmen und Forschungseinrichtungen. Sowohl etablierte Unternehmen als auch kleinere Halbleiterentwickler:innen können die vorhandene Infrastruktur für ihre Entwicklungs- und Forschungsaufgaben nutzen.

Kooperationen und Nutzungsmöglichkeiten

Wir bieten Unternehmen die Möglichkeit, industrielle Testinfrastruktur für eigene Entwicklungs- und Forschungsarbeiten zu nutzen. Dabei können die Testsysteme je nach Aufgabenstellung eigenständig oder mit fachlicher Unterstützung durch unsere Expert:innen eingesetzt werden.

Die konkreten Anforderungen an Testsysteme und deren Konfiguration unterscheiden sich je nach Bauteil und Anwendung. Deshalb stimmen wir die Nutzungsmöglichkeiten individuell mit unseren Kooperationspartnern ab. Bei Bedarf können in Zusammenarbeit mit den Equipmentherstellern auch zusätzliche oder alternative Systemkonfigurationen bereitgestellt werden.

Mögliche Kooperationsfelder sind:

• Nutzung industrieller ATE-Systeme: Zugang zu professioneller Testhardware für Entwicklungs- und Forschungsarbeiten.
• Unterstützung beim Chip-Testing: Fachliche Begleitung bei der Einrichtung und Nutzung der Testsysteme.
• Charakterisierung und Messungen: Unterstützung bei der Untersuchung elektrischer Eigenschaften integrierter Schaltungen.
• Testentwicklung: Unterstützung bei der Entwicklung und Implementierung automatisierter Testabläufe.
• Forschungskooperationen: Zusammenarbeit bei anwendungsorientierten Forschungs- und Entwicklungsprojekten im Bereich Semiconductor Testing.

Die Zusammenarbeit kann flexibel an die jeweiligen technischen Anforderungen angepasst werden. Auch vertrauliche Entwicklungsprojekte können im Rahmen entsprechender Kooperationsvereinbarungen durchgeführt werden.

Ausstattung

Das Automated Test Lab verfügt über zwei industrielle Automatic-Test-Equipment-Systeme (ATE) für das Testen und die Charakterisierung integrierter Schaltungen.

Advantest V93000 – Chiptester

• V93k Chiptester mit ATH
• Engineering Cart
• System Clock Unit mit 8 Utility Lines
• Calibration Robot
• Pin Scale 1600A Digital Card
• DC Scale DPS128-HC/HV mit 64 High-Current- und 64 High-Voltage-Kanälen
• DC Scale AVI64
• SmarTest 7 und 8

Teradyne J750Ex-HD – Chiptester

• 8 Channel Card HSD800
• Power Conditioner
• Engineering Cart
• IG-XL V3.60

Technische Laborinfrastruktur

Für den Betrieb der Testsysteme steht eine entsprechend ausgelegte Laborumgebung zur Verfügung. Dazu gehören:

• Klimatisierte Laborumgebung
• Kühlwasseranschluss
• 63-A-Kraftstromanschluss
• Drei Druckluftanschlüsse mit mindestens 12,5 Litern pro Minute bei 8 bar
• Ableitfähiger ESD-Bodenbelag in Industriequalität

Ergänzende Mess- und Testmöglichkeiten

Das Institut Electronic Engineering verfügt über weitere spezialisierte Laborinfrastruktur im Bereich elektronischer Mess- und Prüfverfahren.

Die Elektromagnetische Schirm- und Absorberkammer ergänzt das Angebot des Automated Test Lab um Untersuchungsmöglichkeiten im Bereich der elektromagnetischen Messtechnik. Mit einem Messfrequenzbereich von 30 MHz bis 18 GHz können unter anderem Störemissionen gemessen, Störfestigkeitsprüfungen durchgeführt und kundenspezifische Antennen entwickelt werden.

Damit bietet das Institut Electronic Engineering Unternehmen neben dem automatisierten Chip-Testing auch ergänzende Möglichkeiten für die Untersuchung elektronischer Geräte und Systeme.

Kontakt

Sie möchten die Testinfrastruktur des Automated Test Lab für Ihre Entwicklungs- oder Forschungsarbeiten nutzen?

Wir freuen uns darauf, Ihre Anforderungen kennenzulernen und gemeinsam Möglichkeiten einer Zusammenarbeit zu besprechen. Bitte kontaktieren Sie die Laborleitung, Andreas Läßer, für Ihre Anfrage.