Department Engineering
System Test Engineering
Im Studium
Aktueller Studienplan
1. Semester
Digital Electronics | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862103
Digital Electronics
4 SWS
6 ECTS
• Grundlagen von Hardwarebeschreibungssprachen
• Kombinatorik und sequentielle Logik in HDL
• Simulieren und Testen von Schaltungen in HDL
• Entwicklung von synthetisierbarem HDL-Code
• Tooling zum Synthetisieren von HDL auf ein FPGA
• Programmierung der Schnittstellen eines Mikrokontrollers
• Kommunikation zwischen Mikrokontroller und FPGA über RS-232, I²C und SPI
• Kombinatorik und sequentielle Logik in HDL
• Simulieren und Testen von Schaltungen in HDL
• Entwicklung von synthetisierbarem HDL-Code
• Tooling zum Synthetisieren von HDL auf ein FPGA
• Programmierung der Schnittstellen eines Mikrokontrollers
• Kommunikation zwischen Mikrokontroller und FPGA über RS-232, I²C und SPI
Mathematical Methods in Test Engineering | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862101
Mathematical Methods in Test Engineering
4 SWS
6 ECTS
• Häufigkeitsverteilungen und Visualisierung von Daten
• Datenbeschreibung durch Lagemaß und Dispersionsmaß
• Wahrscheinlichkeitsrechnung und Normalverteilung
• Stichprobenverteilungen
• Schätzverfahren und Test von Hypothesen
• Korrelation und lineare Regression
• t-Test, Chi-Quadrat-Test und Varianzanalyse (ANOVA)
• Fallstudien von fachspezifischen Anwendungen (beispielsweise Testabdeckung,
• Fehlersimulation)
• Datenbeschreibung durch Lagemaß und Dispersionsmaß
• Wahrscheinlichkeitsrechnung und Normalverteilung
• Stichprobenverteilungen
• Schätzverfahren und Test von Hypothesen
• Korrelation und lineare Regression
• t-Test, Chi-Quadrat-Test und Varianzanalyse (ANOVA)
• Fallstudien von fachspezifischen Anwendungen (beispielsweise Testabdeckung,
• Fehlersimulation)
Mixed-Signal Electronics | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862104
Mixed-Signal Electronics
4 SWS
6 ECTS
• Überblick über Sensortypen und deren Anwendungen (zum Beispiel induktive
Sensoren, kapazitive Sensoren, RADAR, LIDAR, Ultraschallsensoren, Beschleunigungssensoren, Dehnmessstreifen, Durchflussmesser, Magnetometer, Hallsensoren, Temperatursensoren)
• Schnittstellen und Messverstärker für Sensoren
• Signalverarbeitung vom Sensor zum digitalen Signal
• Analog-Digital-Umsetzer
• Synchronisation von Systemen
• analoge and digitale Filter
• elektronische Messgeräte und deren typischen Einsatzgebiete beim Testen
Sensoren, kapazitive Sensoren, RADAR, LIDAR, Ultraschallsensoren, Beschleunigungssensoren, Dehnmessstreifen, Durchflussmesser, Magnetometer, Hallsensoren, Temperatursensoren)
• Schnittstellen und Messverstärker für Sensoren
• Signalverarbeitung vom Sensor zum digitalen Signal
• Analog-Digital-Umsetzer
• Synchronisation von Systemen
• analoge and digitale Filter
• elektronische Messgeräte und deren typischen Einsatzgebiete beim Testen
Software Environments and Programming | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862102
Software Environments and Programming
4 SWS
6 ECTS
• Objektorientierte SW-Entwicklung in Python und LabVIEW
• Python Standard-Bibliotheken und testspezifische Bibliotheken
• Schnittstellen von Mess-/Testsystemen (TCP-IP, UDP, GPIB, RS-232/422, USB)
• Kommunikation zwischen System und dafür notwendigen Gerätetreibern und Bibliotheken
• Auswahl des Datenformats und/oder der Datenbank zur Ergebnisarchivierung
• Versionsverwaltung
• Python Standard-Bibliotheken und testspezifische Bibliotheken
• Schnittstellen von Mess-/Testsystemen (TCP-IP, UDP, GPIB, RS-232/422, USB)
• Kommunikation zwischen System und dafür notwendigen Gerätetreibern und Bibliotheken
• Auswahl des Datenformats und/oder der Datenbank zur Ergebnisarchivierung
• Versionsverwaltung
System Requirements and Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862105
System Requirements and Testing
4 SWS
6 ECTS
• Grundlagen mechatronischer Systeme
• Strukturelle vs. Anwendungstests
• V-Modell für mechatronische Systeme
• Anforderungsmanagement und Testen
• Teststrategien für Systeme (Test-Planning, Test-Methods, Test-Fälle)
• Konformitäts-Matrix
• Modellbasierte Entwicklung
• Funktionale Tests
• Hardware-in-the-Loop
• Software-in-the-Loop
• Model-in-the-Loop
• Test von System- und Bauteilspezifikationen
• Strukturelle vs. Anwendungstests
• V-Modell für mechatronische Systeme
• Anforderungsmanagement und Testen
• Teststrategien für Systeme (Test-Planning, Test-Methods, Test-Fälle)
• Konformitäts-Matrix
• Modellbasierte Entwicklung
• Funktionale Tests
• Hardware-in-the-Loop
• Software-in-the-Loop
• Model-in-the-Loop
• Test von System- und Bauteilspezifikationen
2. Semester
Data Mining and Processing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862201
Data Mining and Processing
4 SWS
6 ECTS
• Signalverarbeitung zur Datenauswertung (Filtern, Spektralanalyse, ; ;Interpolation, Dezimation)
• Methoden und Datenstrukturen für Zeitreihenanalyse
• Visualisierung von Daten und der Protokollierung, Abhängigkeitsmodellierung, Clusterbildung, Klasssifizierung und Regression
• Event-Detektion
• Visualisierung von Daten und Berichterstellung
• Methoden und Datenstrukturen für Zeitreihenanalyse
• Visualisierung von Daten und der Protokollierung, Abhängigkeitsmodellierung, Clusterbildung, Klasssifizierung und Regression
• Event-Detektion
• Visualisierung von Daten und Berichterstellung
PCB Design for Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862204
PCB Design for Testing
2 SWS
3 ECTS
• EMV-gerechtes Leiterplattendesign
• Shielding und Guarding
• Übersprechen und parasitäre Effekte
• Controlled Impedance Routing
• Power Integrity
• Impedanzanpassung
• Teststrukturen für Leiterplatten
• Kontakierung (Prüfsockel, Nadelkarten, Steckverbindungen)
• Bestückung und Komponentenauswahl
• Analyse von guten und schlechten Leiterplattendesigns
• Shielding und Guarding
• Übersprechen und parasitäre Effekte
• Controlled Impedance Routing
• Power Integrity
• Impedanzanpassung
• Teststrukturen für Leiterplatten
• Kontakierung (Prüfsockel, Nadelkarten, Steckverbindungen)
• Bestückung und Komponentenauswahl
• Analyse von guten und schlechten Leiterplattendesigns
Quality and Reliability Testing | Vorlesung (VO) | Coursecode: 200862205
Quality and Reliability Testing
2 SWS
3 ECTS
• Qualität und Zuverlässigkeit: Definition, Bewertung, Indikatoren und Planung
• Qualifikation von Systemen und Komponenten
• ESD und Latch-Up-Effekt • EMC Control
• High and low Temperature Operating Limits (HTOL/LTOL),
• Highly Accelerated Stress Test (HAST)
• High Temperature Storage Life (HTSL)
• Temperature Humidity Bias (THB)
• Qualifikation von Systemen und Komponenten
• ESD und Latch-Up-Effekt • EMC Control
• High and low Temperature Operating Limits (HTOL/LTOL),
• Highly Accelerated Stress Test (HAST)
• High Temperature Storage Life (HTSL)
• Temperature Humidity Bias (THB)
Software Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862202
Software Testing
4 SWS
6 ECTS
• Software-Entwicklungszyklen
• Grundlegende Konzepte für Softwaretests
• Tests im Software Life-Cycle
• Statische und dynamische Teststrategien
• Test Design und Management
• Teststrategien für Softwaretests
• Regressionstest, Modultest und Integrationstest
• Werkzeuge für Softwaretests
• Tests von Firmware
• Versionierung und Dokumentation
• Grundlegende Konzepte für Softwaretests
• Tests im Software Life-Cycle
• Statische und dynamische Teststrategien
• Test Design und Management
• Teststrategien für Softwaretests
• Regressionstest, Modultest und Integrationstest
• Werkzeuge für Softwaretests
• Tests von Firmware
• Versionierung und Dokumentation
Test and Measurement Automation Laboratory | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862203
Test and Measurement Automation Laboratory
4 SWS
6 ECTS
• Aufbau von automatisierten Testsystemen anhand eines komplexeren Beispiels inklusive Software, Mess-/Testgeräten und Hardware (Sensoren, PCB)
• Auswahl von Hardware und Software anhand von Testfällen und deren Messanforderungen
• Inbetriebnahme und Automatisierung des Testsystems
• Testdokumentation und Versionskontrolle
• Measurement System Analysis (MSA)
• Auswahl von Hardware und Software anhand von Testfällen und deren Messanforderungen
• Inbetriebnahme und Automatisierung des Testsystems
• Testdokumentation und Versionskontrolle
• Measurement System Analysis (MSA)
Test Standards | Vorlesung (VO) | Coursecode: 200862206
Test Standards
4 SWS
6 ECTS
• Verifizierung von Designs und Test von Leiterplatten entsprechend dem JTAG-Standard
• Funktionale Sicherheit nach ISO 26262
• Qualitätsnormen wie IATF 16949
• Überblick über EMV-Normen • Statistische Testmethoden und Norm ISO 2859
• Funktionale Sicherheit nach ISO 26262
• Qualitätsnormen wie IATF 16949
• Überblick über EMV-Normen • Statistische Testmethoden und Norm ISO 2859
3. Semester
Project | Projektarbeit (PA) | Coursecode: 200862304
Project
1 SWS
9 ECTS
Lösen einer technischen Aufgabe zum Thema Testing unter Anleitung, die dem Ausbildungsstand entspricht.
Project Management | Seminar (SE) | Coursecode: 200862302
Project Management
2 SWS
3 ECTS
• Projektplan
• Zeit- und Ressourcenplanung
• Rollen (Entwickler, Tester)
• Projektphasen, Meilensteine, Gates und kritischer Pfad
• Zusammenspiel mit dem Qualitätsmanagement
• Fehlermanagement
• Umsetzung in Fallstudien
• Risikoanalyse mit der Failure Mode and Effects Analysis-Methode (FMEA)
• Projektendreview (Lessons learned)
• Zeit- und Ressourcenplanung
• Rollen (Entwickler, Tester)
• Projektphasen, Meilensteine, Gates und kritischer Pfad
• Zusammenspiel mit dem Qualitätsmanagement
• Fehlermanagement
• Umsetzung in Fallstudien
• Risikoanalyse mit der Failure Mode and Effects Analysis-Methode (FMEA)
• Projektendreview (Lessons learned)
Security and Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862301
Security and Testing
2 SWS
3 ECTS
• Grundlagen der Informationssicherheit
• Software-Methoden der Informationssicherheit (z.B. Verschlüsselungen, Zertifikate)
• Hardware-Methoden der Informationssicherheit (z.B. Side-channel Attacken und Gegenmaßnahmen)
• Beispiele für erfolgreiche Security Angriffe und mögliche Gegenmaßnahmen
• Software-Methoden der Informationssicherheit (z.B. Verschlüsselungen, Zertifikate)
• Hardware-Methoden der Informationssicherheit (z.B. Side-channel Attacken und Gegenmaßnahmen)
• Beispiele für erfolgreiche Security Angriffe und mögliche Gegenmaßnahmen
Technical Documentation | Seminar (SE) | Coursecode: 200862303
Technical Documentation
2 SWS
3 ECTS
• Fachsprache Technik und Informationstechnologie
• Zielgruppenorientiertes Schreiben
• Lesbarkeit und Verständlichkeit
• Gestaltung, Typografie, Layout, Informationsgrafik, technische Illustration
• Testspezifikation, Fehlerverfolgung und kundenspezifische Reports
• Formattechnische und sprachliche Standardisierung durch den Einsatz von Vorlagen und Standards
• Zielgruppenorientiertes Schreiben
• Lesbarkeit und Verständlichkeit
• Gestaltung, Typografie, Layout, Informationsgrafik, technische Illustration
• Testspezifikation, Fehlerverfolgung und kundenspezifische Reports
• Formattechnische und sprachliche Standardisierung durch den Einsatz von Vorlagen und Standards
Vertiefung Semiconductor Testing:
Semiconductor Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862305
Design for Test
2 SWS
3 ECTS
• Begriffsdefinition
• Testing von Halbleitern (Anwendungsbeispiel)
• Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit und Zugänglichkeit von Schaltungen
• Modularisierung und Testen
• Testmodes
• Parallele Tests
• Life Time Management: Wafer-Test, Backend-Test, Test of Product Returns (Field Tests)
• Strukturelles Testen (White Box, Grey Box, Black Box)
• Anwendungs-/Funktionale Tests
• Testen von digitalen Schaltungen (Scantest, JTAG, eingebaute Selbsttests)
• Testen von Mixed-Signal Schaltungen (eingebaute Selbsttests, IEEE 1149.4)
• Testing von Halbleitern (Anwendungsbeispiel)
• Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit und Zugänglichkeit von Schaltungen
• Modularisierung und Testen
• Testmodes
• Parallele Tests
• Life Time Management: Wafer-Test, Backend-Test, Test of Product Returns (Field Tests)
• Strukturelles Testen (White Box, Grey Box, Black Box)
• Anwendungs-/Funktionale Tests
• Testen von digitalen Schaltungen (Scantest, JTAG, eingebaute Selbsttests)
• Testen von Mixed-Signal Schaltungen (eingebaute Selbsttests, IEEE 1149.4)
Semiconductor Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862307
Production Testing
4 SWS
4.5 ECTS
• Prozesse in der Elektronikproduktion und Chipfertigung
• Testprogrammentwicklung und -debugging
• Remote Debugging und Remote Entwicklung
• Compliance Matrix • Methoden zur Testzeit-Optimierung
• Test Flow, Test Insertions
• Guard-Band (Test-Limit Management)
• PAT (Part Average Testing)
• Leiterplatte mit Testadapter
• Testequipment Übersicht und Architektur
• Binning und Grading
• Data Logging
• Wafertest und Package Test
• Programming ATE
• Traceability
• Trimming and Fusing
• Testprogrammentwicklung und -debugging
• Remote Debugging und Remote Entwicklung
• Compliance Matrix • Methoden zur Testzeit-Optimierung
• Test Flow, Test Insertions
• Guard-Band (Test-Limit Management)
• PAT (Part Average Testing)
• Leiterplatte mit Testadapter
• Testequipment Übersicht und Architektur
• Binning und Grading
• Data Logging
• Wafertest und Package Test
• Programming ATE
• Traceability
• Trimming and Fusing
Semiconductor Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862306
Verification and Validation Testing
4 SWS
4.5 ECTS
• Validierung und Produktionstest
• Erstellung eines Verifikationsplan
• Automatic test vector generation (ATVG)
• Struktureller, Block- und Systemtest
• Automatisierter Test
• Charakterisierung, Vergleich mit Datenblatt, Corner Testing
• Robustness Validation
• Erstellung eines Verifikationsplan
• Automatic test vector generation (ATVG)
• Struktureller, Block- und Systemtest
• Automatisierter Test
• Charakterisierung, Vergleich mit Datenblatt, Corner Testing
• Robustness Validation
Vertiefung System Testing:
System Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862308
Machine Learning and Optimization for Testing
2 SWS
3 ECTS
• Optimierungsalgorithmen (heuristische Methoden, interaktive Methoden)
• Maschinelles Lernen (überwacht und nicht-überwacht)
• Annotation of Data, Detection Rate and Overfitting
• Arten von neuronalen Netzen
• Lernverfahren für neuronale Netze
• Verfizierung der Leistung eines neuronalen Netzes mit Testdaten
• Leistungssteigerung eines neuronalen Netzes
• Maschinelles Lernen (überwacht und nicht-überwacht)
• Annotation of Data, Detection Rate and Overfitting
• Arten von neuronalen Netzen
• Lernverfahren für neuronale Netze
• Verfizierung der Leistung eines neuronalen Netzes mit Testdaten
• Leistungssteigerung eines neuronalen Netzes
System Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862310
Testing of Automotive Systems
4 SWS
4.5 ECTS
• Testplattformen in der Automobilindustrie (Laborfahrzeug, Teilsysteme, Gesamtfahrzeugtests)
• Elektrische Sicherheit (HV-Tests an Systemen und Gesamtfahrzeug)
• ESD- und EMC-Testing
• Sensorstimulation bzw. Sensorsimulation für den VIL
• Fallbeispiel aus Automobilbereich
• Stufen des automatisierten Fahrens nach SAE
• Fahrerassistenzsysteme (ADAS) und autonomes Fahren (AD)
• Szenario-basierte Validierung von ADAS/AD
• Elektrische Sicherheit (HV-Tests an Systemen und Gesamtfahrzeug)
• ESD- und EMC-Testing
• Sensorstimulation bzw. Sensorsimulation für den VIL
• Fallbeispiel aus Automobilbereich
• Stufen des automatisierten Fahrens nach SAE
• Fahrerassistenzsysteme (ADAS) und autonomes Fahren (AD)
• Szenario-basierte Validierung von ADAS/AD
System Testing | Integrierte Lehrveranstaltung (IL) | Coursecode: 200862309
Testing of Mechatronic Systems
4 SWS
4.5 ECTS
• Kennenlernen von mechatronischen Systemen unterschiedlicher Komplexität
• Funktionaler Zusammenhang zwischen Gesamtsystem und den beteiligten Subsystemen
• Validierungsumgebungen für mechatronische Systeme (MIL, SIL, HIL, Prüfstand)
• Erstellung und Validierung von Modellen von Subsystemen
• Korrelation von Realversuch mit Modellversuch
• Sinnvolle Verteilung der notwendigen Validierungstests auf die ; ;unterschiedlichen Testumgebungen
• Möglichkeiten zur Abschätzung der Testabdeckung
• Funktionaler Zusammenhang zwischen Gesamtsystem und den beteiligten Subsystemen
• Validierungsumgebungen für mechatronische Systeme (MIL, SIL, HIL, Prüfstand)
• Erstellung und Validierung von Modellen von Subsystemen
• Korrelation von Realversuch mit Modellversuch
• Sinnvolle Verteilung der notwendigen Validierungstests auf die ; ;unterschiedlichen Testumgebungen
• Möglichkeiten zur Abschätzung der Testabdeckung
4. Semester
Intercultural Communication and Meetings | Seminar (SE) | Coursecode: 200862401
Intercultural Communication and Meetings
2 SWS
3 ECTS
• Zwischenmenschliche Kommunikation und Kommunikationstheorie im interkulturellen Kontext
• Vorbereitung und Durchführung von internationalen Meetings
• Präsentationsvorbereitung und Präsentationstechniken
• Webmeetings
• Effektive Kommunikation mit multikulturellen Personengruppen in unterschiedlichen Situationen
• Vorbereitung und Durchführung von internationalen Meetings
• Präsentationsvorbereitung und Präsentationstechniken
• Webmeetings
• Effektive Kommunikation mit multikulturellen Personengruppen in unterschiedlichen Situationen
Scientific Working | Masterarbeit (MA) | Coursecode: 200862403
Master's Thesis
1 SWS
24 ECTS
Lösen einer Ingenieursaufgabe aus dem Fachbereich im industriellen Umfeld. Die im Zuge dieser Lehrveranstaltung durchgeführte kommissionelle Prüfung erfolgt in Übereinstimmung mit den Anforderungen an abschließende Prüfungen in FH-Masterstudiengängen gemäß FHStG.id.g.F.
Scientific Working | Seminar (SE) | Coursecode: 200862402
Scientific Writing
1 SWS
3 ECTS
• Wissenschaftliche Methoden und Wissenschaftsbetrieb
• Literaturrecherche und Zitierregeln
• Wissenschaftliche Arbeiten strukturieren und schreiben
• Planung der nötigen Arbeitsschritte sowie Zeit- und Ressourcenplanung
• wissenschaftliche Ausarbeitung einer fachspezifischen Aufgabenstellung
• Präsentation von Zwischen- und Endergebnis(sen)
• Eine wissenschaftliche Arbeit in Form eines Konferenzbeitrages erstellen
• Literaturrecherche und Zitierregeln
• Wissenschaftliche Arbeiten strukturieren und schreiben
• Planung der nötigen Arbeitsschritte sowie Zeit- und Ressourcenplanung
• wissenschaftliche Ausarbeitung einer fachspezifischen Aufgabenstellung
• Präsentation von Zwischen- und Endergebnis(sen)
• Eine wissenschaftliche Arbeit in Form eines Konferenzbeitrages erstellen